只有工序能力強的工藝才可能生產出質量好、可靠性水平高的產品。工序能力指數是一種表示工藝水平高低的方便方法，其實質作用是反映工藝成品率的高低。

    傳統工業生產對工序能力指數 Cp 的要求是 Cp 值在 1 ~ 1.67 范圍內均滿足要求，相應的工藝成品率在 99.73% ~ 99.999971% 之間。如果 Cp 大于 1.67，認為能力過剩，是一種資源浪費。但是現代工業生產以突破了這一傳統觀念。

    在傳統的工業生產中，如果工序能力指數 Cp 大于 1.67，認為工序能力過剩，是一種資源的浪費。但是，在現代工業生產中，特別是在現代電子元器件的生產中，工業不合格品率已降至PPM（Parts per million）水平，即只有百萬分之幾。期間失效率也降至幾十非特。為了滿足這種高質量和高可靠水平元器件的生產要求，對工序能力指數的要求也隨之發生了變化。

    以微電子器件為代表的現代元器件生產一般包括幾十甚至上百道工序。在不合格品率很低的情況下，產品的不合格品率近似等于各道工序工藝不合格品率的總和。為了保證產品的質量，要求單道工序的工藝不合格品率只能為幾個 PPM。因此，現代電子工業生產對生產線的要求時工序能力指數 Cp 不低于 2.0 ，這樣，即使T0與μ偏離為 1.5σ ，實際工序能力指數 Cpk 仍能達到 1.50，對應的工藝不合格品率僅為 3.4PPM。

    在涉及工序能力指數的評價時，一定要明確所說的是 Cp 還是 Cpk，因為 μ 與 T0 之間不可避免地存在偏離。一般情況下偏離為 1.5σ，則 Cp 與 Cpk 相差達 0.5。例如傳統工序能力指數要求指的是潛在工序能力指數 Cp，認為 Cp 大于 1.67 為能力過剩。而且前國際上對現代電子工業生產工序能力指數要求的是實際工序能力指數 Cpk不小于 1.5。

    如上所述，工序能力指數 Cpk 的大小反映了工藝成品率的高低�，F代工業生產對工序能力指數提出了 Cp 不小于 2.0 、Cpk 不小于 1.5 的要求，以保證工藝不合格品率不大于 3.5PPM。顯然，現代電子工業生產對工序能力指數的要求已突破了傳統概念的要求。